Münster (upm), 21. September 2004
Zu einem Erfahrungsaustausch über die "Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS)" treffen sich vom 26. bis 29. September 2004 Physiker, Chemiker, Materialwissenschaftler, Biologen, Biochemiker und Mediziner aus ganz Europa im Physikalischen Institut der Universität Münster. SIMS ist eine heute weltweit genutzte Analytik, die eine konkurrenzlos empfindliche chemische Mikroskopie beliebiger Oberflächen erlaubt. Der Einsatz des Verfahrens reicht von der Mikroelektronik und den allgemeinen Materialwissenschaften bis zur Entwicklung neuer Medikamente oder dem Auslesen von DNA-Chips. 1998 nahmen an der ersten Europäischen Konferenz dieser Art in Münster etwa 150 Wissenschaftler teil, in diesem Jahr rechnen die Veranstalter der vierten Konferenz bereits mit 250 Teilnehmern. Die Leitung des Wissenschaftlichen Komitees liegt wieder bei Prof. Dr. Alfred Benninghoven vom Physikalischen Institut der Westfälischen Wilhelms-Universität.
SIMS gilt heute als das leistungsfähigste nanoanalytische Verfahren zur Bestimmung der chemischen Zusammensetzung von Oberflächen. Die Möglichkeit etwa, winzige - in einem normalen Lichtmikroskop nicht mehr sichtbare - Staubpartikel chemisch zu identifizieren beziehungsweise zu analysieren, hat das Verfahren zu einem unentbehrlichen Kontrollgerät bei der Produktion elektronischer Mikrochips gemacht. SIMS-Geräte des münsterschen Unternehmens ION-TOF stehen heute weltweit in praktisch allen großen Firmen der Mikroelektronik, in Europa ebenso wie in Asien oder den USA. Darüber hinaus wird das Verfahren unter anderem auch erfolgreich zur Untersuchung von kosmischen und interplanetaren Staubteilchen eingesetzt und besitzt ein großes Potenzial bei der Umweltkontrolle.
Auch für viele Bereiche der Life Sciences gewinnt das Verfahren zunehmend an Bedeutung. Die heute in der Mikroelektronik erfolgreich charakterisierten Dimensionen und Substanzmengen sind vergleichbar denen, die in einzelnen biologischen Zellen vorliegen. Das eröffnet zum Beispiel die Möglichkeit der kompletten chemischen Analyse einer einzelnen Zelle. Die faszinierenden Anwendungsmöglichkeiten in vielen Bereichen der Biologie und der Medizin bilden einen Schwerpunkt der diesjährigen Veranstaltung in Münster.
Das Physikalische Institut der Westfälischen Wilhelms-Universität beschäftigte sich seit den 70er Jahren mit den physikalischen Grundlagen, der instrumentellen Entwicklung und den analytischen Anwendungen dieser Technik. Münster gilt aufgrund dieser Aktivitäten, und in neuerer Zeit auch aufgrund der erfolgreichen Tätigkeit verschiedener spin-off Firmen, insbesondere des Geräteherstellers ION-TOF, als das weltweit führende Zentrum der Sekundärionen-Massenspektrometrie.
Die "SIMS Europe 2004" beginnt am Sonntag traditionell mit einer ganztägigen Fortbildungsveranstaltung, die "Anfänger" mit dem Stand der SIMS Geräte- und Verfahrenstechnik vertraut macht und sich insbesondere an Wissenschaftler wendet, die die Technik auf Fragestellungen aus ihren Spezialgebieten anwenden möchten. Die Teilnahme an dieser Veranstaltung ist, ebenso wie die an der eigentlichen Tagung am Montag und Dienstag, für alle Angehörige der Universität Münster kostenlos.
Besondere Tagungsschwerpunkte sind wiederum die neuesten Fortschritte bei der Anwendung von SIMS in der Mikroelektronik und in den Life Sciences. In der Mikroelektronik sind die immer kleiner werdenden Abmessungen der Bauelemente eine kontinuierliche Herausforderung für SIMS. Anwendungen in den Life Sciences sind Gegenstand von einem Drittel aller wissenschaftlichen Beiträge der diesjährigen Tagung. Hier reichen die Themen von der chemischen Mikroskopie biologischer Zellen und Gewebe oder der Diagnostik von Erkrankungen des Gehirngewebes bis hin zur Identifizierung von Bakterien. Dem derzeit besonders aktuellen Thema "SIMS in der Medizin: Forderungen, Stand und Perspektiven" ist eine besondere Diskussionsveranstaltung gewidmet.
Neben diesen Schwerpunkten Mikroelektronik und Life Sciences werden auf der Veranstaltung viele weitere analytische SIMS Anwendungen behandelt, zum Beispiel in der Katalyse, in der Materialforschung oder bei der Entwicklung neuer Kunststoffe, aber auch - etwas exotischer - die Prüfung der Echtheit antiker Kunstgegenstände mit SIMS.
Kontakte/Auskunft: Prof. Dr. A. Benninghoven, Physikalisches Institut der WWU Tel.: 83 33611 Mob.: 0177 7869170