Pressemitteilung upm

Von Mikroelektronik zur medizinischen Diagnostik

5. Europäische SIMS-Konferenz Ende September in Münster

Münster (upm), 18. September 2006

Vom 24. bis 26. September treffen sich im Physikalischen Institut der WWU Münster mehr als 200 Wissenschaftler zur 5. Europäischen SIMS-Konferenz. Die Teilnehmer kommen hauptsächlich aus Europa, aber auch aus den USA, Asien und den Nachfolgestaaten der Sowjetunion. Tagungsleiter der "SIMS Europe 2006" ist Prof. Dr. Alfred Benninghoven, ehemaliger Direktor am Physikalischen Institut der WWU und einer der Gründungsgesellschafter der Münsteraner Firma ION-TOF.  

Die Sekundär-Ionen-Massen-Spektrometrie (SIMS) ist die empfindlichste derzeit verfügbare mikroskopische Analytik. Sie ermöglicht chemische und vor allem auch molekulare Analysen kleinster Strukturen, bis herunter zu Abmessungen, die auch den leistungsfähigsten Lichtmikroskopen kaum noch zugänglich sind. Diese einzigartige Fähigkeit hat SIMS zu einer Schlüsselanalytik für viele Wissenschafts- und Technologiebereiche gemacht. So ist sie z.B. eine zentrale Analysentechnik der modernen Mikro- und Nanoelektronik geworden. Hier, wie auch in vielen anderen Hochtechnologiebereichen, ist SIMS heute unverzichtbar - für die Entwicklung ebenso wie für die Fertigung. Breite Anwendungsmöglichkeiten zeichnen sich derzeit auch in der Medizin ab, unter anderem. bei der Gewebe- und Zellanalytik, bei der Diagnostik und bei der Entwicklung von Medikamenten.  

Experten von Universitäten und aus anderen öffentlichen und industriellen Forschungseinrichtungen werden in über 100 wissenschaftlichen Beiträgen über die neuesten Entwicklungen in der Grundlagenforschung, bei der Geräteentwicklung und bei den analytischen Anwendungen von SIMS berichten. Schwerpunkt sind die analytischen Anwendungen. Sie reichen von der Analyse mikro- und nanoelektronischer Bauelemente bis zur Analyse einzelner Gewebezellen. Im Eröffnungsvortrag wird der münstersche Planetologe Dr. Thomas Stephan über SIMS-Untersuchungen an Sternenstaubproben der NASA berichten - Untersuchungen, die er im Institut für Planetologie mit seinem von der Münsteraner Firma ION-TOF entwickelten und gebauten Großgerät durchführt.  

Seit mehreren Jahrzehnten hat Münster durch richtungsweisende Arbeiten des Physikalischen Instituts und später auch der Firma ION-TOF in entscheidender Weise die Entwicklung auf diesem Gebiet bestimmt. In Münster gibt es die, auch im internationalen Vergleich, größten SIMS-Aktivitäten überhaupt: Mehr als zehn entsprechende Großgeräte werden in Instituten der Universität und in münsterschen Firmen betrieben - zur Grundlagenforschung, bei der Geräteentwicklung und in der stetig zunehmenden analytischen Anwendung.  

Dabei werden diese Geräte in Münster entwickelt, gebaut und von hier aus auch erfolgreich weltweit vertrieben. Geräte "Made in Münster" stehen nicht nur in den Laboratorien vieler Universitäten und Forschungseinrichtungen, sondern auch in praktisch allen bekannten Firmen der Mikroelektronik und in vielen großen Chemieunternehmen - weltweit.  

 

 

Fachbereich Physik