Pressemitteilung upm

Blick aufs Detail

Konferenz zum Thema Rasterkraftmikroskopie

Münster (upm), 19. Juli 2007

Der Blick auf kleinste Strukturen steht vom 3. bis zum 5. September in Münster beim "Euro-AFM-Forum" im Vordergrund: Es bietet Wissenschaftlern die Möglichkeit, sich über innovative Forschung und neueste Erkenntnisse rund um Rastersonden- bzw. Rasterkraftmikroskope (Atomic Force Microscopes, AFM) auszutauschen. Die Universität Münster ist mit dem Zentrum für Nanotechnologie (CeNTech) an der Ausrichtung der Veranstaltung beteiligt. Veranstaltungsort ist das CeNTech, Heisenbergstr. 11.  

Die Anmeldung ist kostenlos und für jeden möglich, der mit AFM arbeitet oder Interesse hat, mehr darüber zu erfahren. Nach einer Begrüßung am Vorabend stehen am 4. September Gastvorträge und eine Posterausstellung auf dem Programm. Am 5. September findet ein Workshop statt mit Vorträgen und Gerätedemonstrationen sowie praktischen Übungen zum Beispiel zu Messungen in Flüssigkeiten, elektrischen oder magnetischen Messungen oder neuen AFM-Messmodi. Neben WWU und CeNTech fördern die Firmen "Asylum Research" und "Atomic Force F&E" das Euro-AFM-Forum.  

Einzelheiten zur Konferenz und zur Anmeldung finden sich unter folgendem Link: http://www.asylumresearch.com/EuroForum/  

 

 

 

 

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