Münster (upm), 10. September 2008
Vom 14. bis zum 16. September 2008 findet an der Universität Münster die sechste "Europäische Konferenz über Sekundärionen-Massenspektrometrie" (SIMS) statt. Etwa 250 Physiker, Chemiker, Materialwissenschaftler, Biologen und Mediziner treffen sich zu diesem alle zwei Jahre in Münster stattfindenden Erfahrungsaustausch. Im Fokus der "SIMS Europe 2008" stehen unter anderem biologische Gewebe und Einzelzellen, Bauelemente der Mikroelektronik, Nanostrukturen auf Polymeroberflächen, aber auch Fingerabdrücke oder interstellare Staubpartikel. Die Tagung beginnt am Sonntag, 14. September, um 9 Uhr mit einer Einführungsveranstaltung in der Institutsgruppe I, Wilhelm-Klemm-Straße 10.
Die Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) ist eine "chemische Mikroskopie". Sie kann die chemische Zusammensetzung von Oberflächen sichtbar machen, mit Auflösungen, die deutlich über den mit Lichtmikroskopen erreichbaren liegen. Damit erlaubt das Verfahren die chemische Analyse von Nanostrukturen. Diese Fähigkeit erklärt das breite Anwendungspotenzial - es reicht von der Mikro- und Nanoelektronik bis zur Umwelt- und Medizintechnik.
"Zur instrumentellen und verfahrenstechnischen Entwicklung von SIMS haben münstersche Forscher in den vergangenen Jahrzehnten mit bahnbrechenden Entwicklungen beigetragen - erst durch die Arbeiten im Physikalischen Institut der WWU, später dann auch durch Beiträge der aus dem Institut heraus gegründeten Unternehmensgruppe 'ION-TOF'", erklärt Prof. Dr. Alfred Benninghoven vom Fachbereich Physik der WWU, Tagungsleiter der SIMS 2008. "Münster gilt seit Jahrzehnten als international anerkanntes SIMS-Zentrum weltweit, sowohl im Bereich der Grundlagenforschung als auch bei der Geräteentwicklung und den analytischen Anwendungen. TOF-SIMS Geräte aus Münster sind heute weltweit verbreitete und geschätzte Instrumente."
Prof Benninghoven initiierte und organisierte vor mehr als 30 Jahren in Münster die erste der bis heute erfolgreichen internationalen SIMS Konferenzen. Sie finden regelmäßig alle zwei Jahre an wechselnden Orten in Europa, den USA oder in Asien statt. Die rasche Entwicklung des Gebietes führte nicht nur in Europa, sondern auch in den USA, Japan und in China zur Gründung regelmäßig stattfindender regionaler Konferenzen. Die europäischen SIMS-Konferenzen finden traditionell in Münster statt.
Weitere Informationen zur SIMS 2008 sowie das vollständige Programm sind unter www.sims-europe.uni-muenster.de zu finden.