Pressemitteilung upm

Mustererkennung und Bildanalyse

Informatiker der Universität Münster richten Tagung aus

Münster (upm), 10. Mai 2011

Die Arbeitsgruppe "Pattern Recognition and Computer Vision" vom Institut für Informatik der Universität Münster lädt von Mittwoch, 18. Mai, bis Freitag, 20. Mai, zu einem Workshop ein. Es werden rund 50 internationale Wissenschaftler erwartet, die sich mit Fragen der Mustererkennung und Bildanalyse beschäftigen. Interessierte finden weitere Informationen sowie die Möglichkeit zur Anmeldung auf der Internetseite des Workshops.

Im Fokus der Tagung stehen wichtige Teilgebiete der Mathematik und Informatik: Graphentheorie und -algorithmik. Mit Hilfe von Graphen lassen sich viele Alltagsprobleme modellieren und auch lösen. Sie helfen den Forschern beispielsweise bei der Analyse von medizinischen Bildern, Aufnahmen von Überwachungskameras oder Fotografien.

Der "Workshop on Graph-based Representations in Pattern Recognition" findet alle zwei Jahre statt. Er wird von der "International Association for Pattern Recognition" organisiert. Nach Stationen in Frankreich, Österreich, Italien, England und Spanien ist er diesmal zum ersten Mal an der Universität Münster zu Gast.

Anmeldung und weitere Informationen zur Tagung